hamelyn-logo

Hulp

cupon
Neem drie en betaal slechts twee met de code TRIPLE
cupon
IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X

WetenschappenTechnologie
imageGRATIS verzending
image30 dagen retour
Er is nog maar één exemplaar beschikbaar, wees er snel bij!
Status

Veilig betalen

googlepayapplepayvisamastercardpaypalaexpress

BoekdetailsPaperback

Uitgever

Institucion Alfonso el Magnanimo (Valenc

Pagina's

104

Taal

ca, es

Auteur: Jose Maria Amigó Descarga

Beschrijving

Este libro, titulado 'IAM Investigació, Nº 20. Caracterització Textural I Cristal·loquímica De Materials D Interés Tecnològic Mitjançant La Difracció De Raigs X', es una introducción a la difracción de rayos X por el método de polvo, el método de Rietveld y el análisis microestructural de caolinitas por DRX. Publicado en 1996 por Alfons el Magnànim, Valencia, este volumen de 104 páginas ofrece una exploración detallada de la caracterización textural y cristaloquímica de materiales de interés tecnológico.

recommender-banner
JulIA, je virtuele bibliothecaresseBeveelt je volgende geweldige boek aan

Vergelijkbare producten